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3a u. b. Entwickeltes Halogensilberkorn: a) Elektronenmikroskopische Direktaufnahme. b) Elektronenmikroskopische Aufnahme des Kohleabdruckes. logarithmische Verteilung die Gl. Ag = 10,5 [g • cm - 3 ] ge- 5,3 = - /(2 0,062 e Ae d - a. (16) 5,3 Die Größen ß1 = e- h~ und ß2 = e- h;l sind in Abb. l für verschiedene Korngrößenverteilungen a ufgetragen . Für hd > 10 werden ß1 und ß2 nahezu 1 und können vernachlässigt werden. Die Beziehungen zwischen Schwärzung und Größe der entwickelten Silberaggregate 89 Für die Normalverteilung (Gl.

L 2. Röntgen-, Blitz- und Normalbelichtung Durch Veränderung der Belichtungszeit, des Abstandes oder der Intensität wurde das gleiche Material verschieden stark belichtet. Dabei wurde die Belichtung weit über die normale Belichtung hinaus ausgedehnt . Auf Abweichungen von der R eziprozität wurde bei diesen Experimenten keine Rücksicht genommen, für Röntgenlicht existiert ja ohnehin kein v on 1 verschiedener Schwarzschildexponent. Von den belichteten Proben wurde jeweils ein Teil in dem angegebenen physikalischen Rhodanidentwickler entwickelt, ein Teil in einem handelsüblichen chemischen Entwickler (Agfa-Final).

Durch das Eintrocknen ändert sich der Winkel zwischen der Ebene des Korns und der Unterlage von e nach s' ! I I I II (vergl. Abb. 4). Für die Projektionsfläche I folgt dann fv = l2 cos 2 e'. Durch die Eintrocknung der Schicht Abb. 4. Veränderung der Lage eines Halogensilberkristalls beim Eintrocknen der gehen nun die Größen a und b (siehe Abb. 4) ins a undsbüber(s < I= EintrocknungsEmulsionsschicht. faktor). Es gelten dann die Beziehungen . , s1n IX = -b -1-a und s1n e s sin e. Somit erhält man für die gesuchte Projektions- L Jb a!